IQC进料检验
       公司来料我们均严格按照专业方法与技术进行检测，以保证产品的合格与安全。

A：X-ray检测   是非破坏性检测，对产品内部缺陷快速分析，X-ray可检测待测产品内部结构及是否有缺陷、空洞(Void)、Crack等异常。

B：I-V电特性测量   提供DC组件及导体组件特性量测、电性能失效分析检测 (EFA Electrical Failure Analysis)、可测量样品各功能脚位的阻値差异，脚位数最多达1024 Pins。

优势

       1. 支持多种封装形式的Socket； 

       2. 快速比对出异常脚位的电位； 

       3. 多种量测模式可选择（EX: Pin-all,  pin-pin）；
                   

C: 芯片开盖检查   对于各种封装元件都能提供最佳的芯片开盖 (Decap)、去胶 (去除封胶，Compound Removal)方式。

       1. 封装体开盖(Decap)

       LED、砷化镓芯片、车用芯片、光耦合芯片。

       2. 特殊开盖(Decap)

       Backside、MEMS、封装材料制作、各式封装体拆解。

       3. 化学法蚀刻分析

       弹坑实验、去焊油/污渍、化学蚀刻去光阻、Pin脚清洗。

案例分享（开盖后的图像）